原子力显微镜

纳米级分析

原子力显微镜是扫描探针显微镜的一种非常高的分辨率形式。原子力显微镜可以可视化和测量样品地形至纳米尺度。AFM可以与光谱法（FTIR），机械分析（刚度）和热（DSC）方法结合使用，以提供化学和机械性能作为纳米分辨率在样品上的位置的函数。

• 超过1000倍的分辨率比光学显微镜更好
• 机械分析 - 纳米级样品中样品中的映射刚度变化
• 纳米级热分析 - 测量聚合物层和颗粒的热过渡
• ftir-nano - 识别薄膜，混合和复合材料中的化学特征，其空间分辨率降至10nm