用化学绘图导航表面组成!
当需要的时候表面敏质谱法，飞行时间-二次离子质谱(TOF-SIMS)是值得信赖的选择!初级离子轰击样品的表面，从而产生次级离子。这些离子只从样品表面的前几层单层中产生。质谱鉴定这些特征质量碎片允许成分鉴定(高达400Da)与质量精度高．用离子束轰击整个表面，提供不同采样地点的化学图像。化学成分现在可以映射通过表面或样品的横截面，使它成为您的主要，而不是次要，表面分析的选择!
- 识别表面涂层聚合物添加剂
- 粘着力不足
- 在正离子和负离子模式下检测痕量成分
- 筛分成分表面差异
- 横截面分析
